Path:OKDatasheet > Полупроводникови Datasheet > TI Datasheet > SN74BCT8374ADWR
SN74BCT8374ADWR спец.: SCAN TEST DEVICE WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS
Path:OKDatasheet > Полупроводникови Datasheet > TI Datasheet > SN74BCT8374ADWR
SN74BCT8374ADWR спец.: SCAN TEST DEVICE WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS
Производител : TI
Опаковка : DW
Pins : 24
Температурата : Мин 0 °C | Макс 70 °C
Размер : 323 KB
Заявление : SCAN TEST DEVICE WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS